Thickness-Measurement F20
Thickness-Measurement F20
F20 系列
世界上最暢銷的台式薄膜厚度測量系統
只需按下一個按鈕,您在不到一秒鐘的同時測量厚度和折射率。
設置同樣簡單,只需插上設備到您運行Windows™系統電腦的USB接口,並連接樣品平台,F20已在世界各地有成千上萬的應用被使用。
事實上,我們每天從我們的客戶學習更多的應用。
選擇F20主要取決於您需要測量的薄膜的厚度(確定所需的波長范圍)
包含的內容:
- 集成光譜儀/光源裝置
- FILMeasure 8 軟件
- FILMeasure 獨立軟件(用於遠程數據分析)
- SS-3 樣品平台
- 參考材料
- 厚度標準
- 整平濾波器(用於高反射基板)
- 備用燈
型號規格
型號 | 厚度範圍* | 波長範圍 |
---|---|---|
F20 | 15nm - 70µm | 380-1050nm |
F20-EXR | 15nm - 250µm | 380-1700nm |
F20-NIR | 100nm - 250µm | 950-1700nm |
F20-UV | 1nm - 40µm | 190-1100nm |
F20-UVX | 1nm - 250µm | 190-1700nm |
F20-XT | 0.2µm - 450µm | 1440-1690nm |
F3-sX 系列 | 10µm - 3mm | 960-1580nm |