Atomic Force Microscope Dimension Edge

超值的高性能AFM

Dimension Edge™原子力顯微鏡採用布魯克專利的PeakForce Tapping ® 技術，提供同類產品中，高水平的原子力顯微鏡 （AFM） 性能、功能和配件。基於 Dimension Icon 平台開發，Dimension Edge系統的設計具有低漂移、低噪音的特點，大大提高了數據獲取速度和可靠性，使用這台全新的儀器，幾分鐘時間即可獲得高質量、可發表的專業數據。另外，其集成的可視化反饋和預配置設置，使其如專家現場操作一樣，簡單方便，測量結果高度一致。 Dimension Edge最先進的大樣品 AFM 功能和技術可為每個用戶的多種應用環境提供選擇。

閉環精度

該系統的核心配件是布魯克著名的閉環掃描器。該掃描器採用溫度補償位置傳感器，由模塊化設計的低噪聲控制電子器件驅動，可將探針掃描的閉環噪聲級別降低至單個化學鍵長度的量級。

大樣品平台

Dimension Edge 樣品台不僅由馬達控制，可進行編程實現高效多點測量，還允許您直接在 AFM 掃描器下同時放置更多類型的樣品，減少樣品放置時間。探針-樣品交匯處的物理開放性，使您能夠更直接地觀察樣品器件的幾何結構，以及器件的電氣連接或放置其他定制的實驗附件。

自動成像優化

Dimension Edge 採樣階段不僅可進行電動和可編程，可進行高效的多點測量，還允許您直接在 AFM 掃描儀下安裝更多類型的樣品，同時使用更少的製備時間。對探針-樣品交匯點的物理開放訪問能夠更直接地調查具有幾何挑戰性的器件結構，以及電氣連接或其他定制實驗附件的附件的附件。

用AFM拓展您的應用

憑藉一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的 AFM 技術。

基於核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套 AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨創的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。