Atomic Force Microscope Dimension Icon

全球性能最優的大樣品台AFM

Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業界和科研界納米領域的研究者帶來了全新的應用體驗，具有高水平的性能、功能和配件選擇， 其測試功能強大，操作簡便易行。

齊集Dimension系統數十年的技術經驗，廣大客戶反饋，結合工業領域的設備需求， Dimension Icon進行了全面革新。全新的系統設計，實現了前所未有的低漂移和低噪音水平。現在，用戶只需要幾分鐘就可獲得真實準確的掃描圖像。

高性能和高分辨率

Dimension® Icon™優秀的分辨率，與Bruker 特有的電子掃描算法相結合，顯著提升了測量速度與質量。

Dimension® Icon™是針尖掃描技術的最新革新，一直處於領先地位。

該系統配置溫度補償位置傳感器，實現了Z 軸亞埃級和XY 軸埃級的低噪音水平，將這個性能應用在90 微米掃描範圍、大樣品台系統上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環噪音水平。

XYZ 閉環掃描頭的新設計使儀器在較高掃描速度工作時，圖像質量也不會被損壞，實現了更大的數據採集輸出量。

配置Bruker 專利的PeakForce®技術，Dimension Icon可實現智能獲取高分辨圖像。

卓越表現

Dimension Icon Dimension Icon 在原有的操作平台上引入最新技術，展現出更高的性能和更快的測量速度。

其軟件直觀的工作流程，使其操作過程比以往最先進的AFM 技術更加簡便。

Dimension Icon用戶無需像以前一樣，通常需要幾小時的專業參數調整，即可立即獲得高質量的測量結果。

Dimension Icon 的每個方面，從完全開放式針尖樣品空間，到軟件參數預設置，都經過特殊設計以求達到無障礙操作和驚人的AFM 易用性。

靈活的AFM平台

Dimension Icon 展現出了的無與倫比的性能，穩定性和靈活性，幾乎可以實現以前只有在特製系統中才能完成的所有測量。利用開放式平台，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM 的強大功能完全展現在科研領域和工業領域的研究者面前，為高質量AFM成像和納米操作設定了新的標準。

Dimension Icon 提供對性能沒有任何影響的靈活性平台， 一個平台，無限可能：

• 開放的平台，能整合其他技術
• 開放的軟件和硬件，能輕鬆定制您的研究應用- "如果它不存在， 就發明它"
• 電池、有機太陽能等研究的完整解決方案

用AFM拓展您的應用

憑藉一整套出色的AFM成像模式，布魯克能為您每項研究提供適用的AFM 技術。

基於核心成像模式（接觸模式和輕敲模式），布魯克提供的全套AFM測試模式，允許用戶探測樣品的電學、磁性等豐富性能。布魯克獨創的全新的峰值力輕敲技術作為一種新的核心成像模式，已被應用到多種測量模式中，能同時提供形貌、電學和力學性能數據。